調(diào)制四光束方法使用兩個(gè)光源和兩個(gè)光電探測(cè)器。如圖7所示，這些部件圍繞圓形樣品室以90°間隔隔開。每半秒，傳感器完成兩個(gè)測(cè)量階段，微處理器計(jì)算濁度讀數(shù)。在**階段，光源1瞬間將光束直接脈沖到光電探測(cè)器2中。同時(shí)，光電探測(cè)器1測(cè)量在90°散射的光。

在第二階段，光源2暫時(shí)將光束直接脈沖到光電探測(cè)器1中。同時(shí)，光電探測(cè)器2測(cè)量90°的散射光。每次點(diǎn)亮光源時(shí)，它都提供有效信號(hào)和參考信號(hào)。兩個(gè)光源交替脈沖。同樣，兩個(gè)光電探測(cè)器交替讀取有效信號(hào)或參考信號(hào)。這兩相測(cè)量提供來自兩個(gè)光源的四個(gè)獨(dú)立測(cè)量，使用來自兩個(gè)探測(cè)器的直接強(qiáng)度讀數(shù)和來自相同兩個(gè)探測(cè)器的90°散射光讀數(shù)。微處理器使用比率算法從這四個(gè)讀數(shù)計(jì)算濁度值。在數(shù)學(xué)上，這意味著誤差效應(yīng)出現(xiàn)在分子和分母中 - 因此被取消。

調(diào)制的四光束方法消除了由元件老化或結(jié)垢導(dǎo)致的所有誤差項(xiàng)，并減少了由于顏色因素引起的誤差。該方法還提供了實(shí)際的優(yōu)點(diǎn)，即光源和探測(cè)器不需要匹配以提供精確的測(cè)量。圖6 - 雙光束方法濁度計(jì)設(shè)